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                  可靠性监控


                          上海东软载波微电子有限公司建立程序确保产品的可靠性符合客户的要求。公司依据AEC-Q100的要求对产品的可靠性进行验证。

                       

                   可靠性验证项目主要分为六组:

                        Group A: 环境应力加速验证Accelerated Environment Stress Tests
                        Group B: 加速寿命模拟验证 Accelerated Lifetime Simulation Tests
                        Group C: 封装验证 Package Assembly Integrity Tests
                        Group D: 芯片制造可靠性验证 Die Fabrication Reliability Tests
                        Group E: 电性验证 Electrical Verification Tests
                        Group F: 失效筛选验证 Defect Screening Tests

                        Group G: 空腔体封装综合测试 Cavity Package Integrity Tests(不适用)



                  Copyright 2016-2021 上海东软载波微电子有限公司版权所有 沪ICP备07005227号-1       隐私条款

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